淺述偏光測(cè)量顯微鏡的調(diào)節(jié)與校正方法
更新時(shí)間：2022-09-16 點(diǎn)擊次數(shù)：720次
偏光測(cè)量顯微鏡用于檢測(cè)具有雙折射性的物質(zhì)，如纖維絲、紡錘體、膠原、染色體等等。高聚物在熔融和無(wú)定形時(shí)呈現(xiàn)光學(xué)各向同性，即各方向上折射率相同，*不能通過(guò)檢偏片，因而視野全暗。當(dāng)高聚物存在晶態(tài)或取向時(shí)，光學(xué)性質(zhì)隨方向而異，產(chǎn)生雙折射，視野明亮，可以觀察到結(jié)構(gòu)形態(tài)。在高聚物多相體系研究中，對(duì)于共混和共聚，如果其中有一相可以結(jié)晶，可用于偏光顯微鏡直接研究其多相體系的結(jié)構(gòu)。
偏光測(cè)量顯微鏡的調(diào)節(jié)與校正：
選擇并裝配物鏡和目鏡：按需要選擇物鏡和目鏡，在安裝目鏡時(shí)注意其內(nèi)十字絲的方向。
調(diào)節(jié)照明：打開光源燈，調(diào)節(jié)變壓器旋扭，直到亮度適度為止。
物鏡中心的校正：物臺(tái)旋轉(zhuǎn)軸、物鏡中軸、鏡筒中軸、目鏡中軸必須保持在一條直線上，偏光顯微鏡才能正常使用，目前有關(guān)物鏡中心的校正將由指導(dǎo)教師來(lái)完成。
焦準(zhǔn)：將薄片置于物臺(tái)上，在教師指導(dǎo)下，用粗調(diào)或微調(diào)調(diào)焦至物象清晰。在此過(guò)程中，千萬(wàn)注意，物鏡前透鏡不要與薄片接觸，以免打碎薄片或損壞鏡頭。
下偏光鏡的檢查：下偏光鏡的振動(dòng)為東西向。當(dāng)黑云母的解理平行下偏光鏡的振動(dòng)方向時(shí)顏色最深，據(jù)此可以檢查、調(diào)節(jié)下偏光鏡的振動(dòng)方向。
上偏光鏡的檢查：移去薄片，視域黑暗，說(shuō)明上偏光振動(dòng)方向與下偏光振動(dòng)方向互相垂直。否則，需要進(jìn)行調(diào)節(jié)，調(diào)節(jié)工作由指導(dǎo)教師來(lái)完成。
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